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鍍鋁薄膜鍍鋁紙鍍層厚度測量儀CHY-CM依據歐姆定律測試各種金屬鍍層的厚度值，適用于各種鍍鋁薄膜、鍍鋁紙、帶有金屬鍍層的薄膜材料等鍍層厚度的測定。通過對鍍層厚度的測定，達到控制與調節材料表面金屬鍍層厚度的技術指標。